紫外/可見分光光度計EMC-NANO-UV 為德國emclab制造，品質*。所有儀器在交付時都將隨附已經 DAkkS* 校準過的標準物質，幾乎可為所有應用提供石英玻璃、光學玻璃、塑料等不同材質的比色皿。

紫外/可見分光光度計 儀器特點：

EMC-NANO-UV

-樣品體積為 0.2~2.0µl的新型NANO比色皿 +10x10 mm比色皿托架

-簡單易用

-水平光路 - 無能量損耗

紫外/可見分光光度計 EMC-NANO-UV 詳細參數(shù)：

Wavelength Range：190-1100 nm

Spectral Bandwidth：4 nm

Optical System：Single Beam, grating 1200 lines/mm

Wavelength Accuracy：±0.5 nm

Wavelength Repeatability：0.3 nm

Photometric Accuracy：≤±0.5 % T or ±0.004A@1A

Photometric Range：0-200 % T, -0.3 - 3A, 0-9999 Conc.

Scan Speed：Hi, MED, LOW – MAX: 3000nm/min

Stray Light：0.05 % T@220, 340 nm

Stability：±0.002A/h@500 nm

Baseline Flatness：±0.002A (200-1000 nm)

Noise：0.0005A@500 nm

Detector：Silicone Photodiode

Display：LCD 320*240

Central beam height：15 mm

Flip Cell Holder：0.2~2.5 μl and cuvette 10 mm path length

Light Source：Tungsten & Deuterium lamp

Power Requirement：AC 110/220V 50/60 Hz

Dimensions：(LxH) 490 x 370 x 220 mm

Weight：14kg